產(chǎn)品列表 / products
集鍍層厚度測量和材料測試與一體，F(xiàn)ISCHERSCOPE® MMS® PC是一款簡潔并極其通用的臺(tái)式多功能測量系統(tǒng)帶數(shù)據(jù)檔案和測量數(shù)據(jù)處理能力?？捎糜谑止さ臉悠窓z測，以及過程控制和生產(chǎn)過程中的晝夜監(jiān)控?？膳浜掀贩N繁多的測量探頭以適用于各種不同幾何形狀和測量范圍的測試工件
測量快速，重復(fù)性好 大部分材料上無需校準(zhǔn) 調(diào)零功能可應(yīng)用在粗糙不平的表面及曲面上 無法調(diào)零時(shí)可使用方便的重啟功能 堅(jiān)固耐磨損的紅寶石探頭
1．金屬上的各種皮膜(鋁上氧化膜，鐵上鍍鋅、鉻等的電鍍、涂裝)或非金屬上的各種金屬 (塑膠上的鍍層等)可以在短時(shí)間內(nèi)非破壞測量其厚度，適合各種檢測 2．由于使用電腦，校正、測定等操作相當(dāng)簡單，可以直接選取各種測量模式。螺絲頂部、線材 等小部件和壓鑄件制品同樣可容易測定。
1、各種鍍層(多層、合金)的精密測量； 2、除平板形外，還可以通過提供的圖表測量圓形、棒形(細(xì)線)等各種形狀 3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層； 4、可制作非破壞式膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板；
TM1200涂層測厚儀 鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。又可測量非導(dǎo)磁金屬基體上非導(dǎo)電履蓋層厚度。例如:測量鋁的陽極氧化層以及鋁、銅、鋅等材料表面上油漆、噴塑和橡膠履蓋層的厚度。
